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Neue Produkte vom 05/04/2015

Micro-Epsilon

Inspektion spiegelnder Oberflächen

Mit der 2D-Version des reflectCONTROL Compact können Defekte auf Oberflächen erkannt werden. Die 3D-Version erlaubt außerdem die Vermessung von Oberflächen mit Sub-Mikrometer-Genauigkeit.

Bild: Micro-Epsilon
  (Bild: Micro-Epsilon)

Das vollintegrierte Inspektionssystem reflectCONTROL Compact für spiegelnde Oberflächen ist in zwei Ausführungen mit verschiedenen Messfeldern erhältlich. Mit der 2D-Version können Defekte auf den Oberflächen erkannt werden. Die 3D-Version erlaubt zusätzlich die Vermessung der Oberflächen mit Sub-Mikrometer-Genauigkeit. Das Gerät kann sowohl im Einzelbetrieb wie im Labor verwendet als auch in eine Anlage integriert werden. Die vorinstallierte Bedien- und Auswertesoftware zeigt in der 2D-Version Oberflächendefekte an. Die 3D-Version liefert eine Punktewolke. Die gewonnenen Daten können in Bildverarbeitungsprogrammen weiterverarbeitet werden.

Alle Komponenten sind im Gerät integriert: Zur Bedienung steht ein touchfähiger Bildschirm zur Verfügung. Die Füße des Gerätes sind höhenverstellbar. Um Fremdlichteinflüsse zu vermeiden, kann das Messfeld auf allen vier Seiten abgedunkelt werden. Der reflectCONTROL Compact kann über die Ethernet-Schnittstelle in Anlagen eingebunden werden. Ein Digital-I/O-Interface ermöglicht die Triggerung. Über zwei USB-Ports können Maus und Tastatur verbunden werden. Ist das Gerät an einer schwer zugänglichen Stelle verbaut, kann ein externer Bedienmonitor über VGA angeschlossen werden. (as)


Micro-Epsilon auf der Control: Halle 1, Stand 1304
Micro-Epsilon auf der SENSOR+TEST: Halle 12, Stand 337