Neue Produkte vom 11/13/2012

IAR Systems

Debugging- und Trace-Leistung für ARM-Entwickler gesteigert

JTAGjet-Trace ist verfügbar als spezielle ARM Cortex-M-Ausführung oder als Vollversion mit Unterstützung für alle ARM7-, ARM9-, ARM11-, Cortex-M-, Cortex-A8/A9- und Cortex-R4-Cores mit ETM-Trace-Logik. (Bild: IAR Systems)

IAR System hat ihre In-Circuit-Debugging-Probe JTAGjet-Trace nun vollständig in ihre Entwicklungs-Toolsuite IAR-Embedded-Workbench für ARM integriert. Nutzer der Embedded-Workbench haben somit unbeschränkten Zugriff auf den erweiterten Trace-Support für alle ARM-Cores und können die Trace-Fähigkeiten von ARM Cortex-M-, Cortex-R- und Cortex-A- sowie ARM7/9/11-Geräten beim Debugging komplexer Systeme voll nutzen.

JTAGjet-Trace ist eine In-Circuit-Debugging-Probe mit hoch entwickelten Trace-Funktionen für die Entwicklung komplexer Anwendungen. Mit der Unterstützung für Embedded-Trace-Macrocell (ETM) gibt sie Entwicklern vollen Einblick in das Verhalten ihrer Anwendung. Nutzer können die Auswirkungen des Programms während der Ausführung auf dem Board beobachten und Funktionen wie Full-Instruction-Trace und Funktions-Profiling nutzen, um Probleme in der Anwendung zu erkennen.

JTAGjet-Trace basiert auf dem JTAG-Boundary-Scan-Port und erlaubt eine Trace-Erfassung mit einer Trace-Frequenz von bis zu 200 MHz (400 MSample/s ETM Trace-Erfassungsgeschwindigkeit) und einer Trace-Buffer-Capture-Kapazität von bis zu 18 MByte. Die Auto-Timing-Anpassung eliminiert Probleme bei Daten- und Frequenz-Abweichungen und ein 56-Bit-Zeitstempel sorgt für eine CPU-Zyklus-Genauigkeit bis zu 5 ns. Die Embedded Workbench unterstützt nun auch den gleichzeitigen Anschluss multipler Serial-Wire-Debug(SWD)-Geräte, was das Debugging von ARM Cortex-Multicore-Geräten erheblich erleichtert. Durch das gleichzeitige Verbinden mehrerer Cores mit demselben Gerät kann die komplette Multicore-Anwendung auf einmal debugged werden.

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