Neue Produkte vom 11/13/2012
Tektronix
Umfassende, automatische Tx-, Rx-Test-Suite für PCI-Express 3.0
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| Tektronix Automated PCI 3.0 Testsuite (Bild: Tektronix) |
Tektronix stellt die nach eigener Einschätzung derzeit flexibelste und vollständigste automatische Konformitäts- und Debug-Testlösung für Sender (Tx) und Empfänger (Rx) des PCI-Express3.0-Standards vor. Durch neue Produkterweiterungen der BERTScpoe Bitfehlerratentester und der PCI-Express-Testsoftware, kann das Unternehmen jetzt Halbleiter-, Host- und Kartenentwicklern eine vollständige Lösung für den Test von PCI Express 3.0 anbieten. PCI Express wird mit jeder neuen Generation schneller und komplexer. Bei Geschwindigkeiten von 8 Gbit/s erfordert der Test von PCI Express 3.0 komplexe Rx-Stressbedingungen, einen BER-Konformitätstest und zahlreiche Tx-Konformitätstests. Eine vollständige Testunterstützung wird auch beim Debugging fehlerhafter Designs benötigt. Mit den neusten Updates wird jetzt die am höchsten integrierte Unterstützung für einen automatisierten Test und Debugging des PHY Layers von PCI Express 3.0 geboten.
Für PCIe3-Rx-Tests wurde die von der PCI-SIG Testspezifikation geforderte Stressed-Pattern-Generation automatisiert und enthält jetzt außerdem eine integrierte Unterstützung für Taktmultiplikation und Eye-Opening-Tests. Zusätzlich wurde die Loopback-Steuerung des Testobjekts (DUT) automatisiert, was den Testprozess vereinfacht und die Testlaufzeit verkürzt. Die Verbesserungen werden mit Hilfe des neuen DPP125C, der eine Vorverzerrung für die gestressten Pattern erlaubt, dem neuen BSAITS125, einem integrierten Interferenz-Combiner mit variablem ISI, und der neuen BSAPCI3, einer automatisierten Kalibrierungs-, Loopback- und Link-Training-Software, erreicht. Zu den weiteren Komponenten der vollständigen Rx-Lösung gehören der Arbiträr/Funktionsgenerator AFG3000 für einen Test der Gleichtaktstörungen und die erstklassige Taktrückgewinnungseinheit CR286A für die Messung der PLL-Loop Bandwidth. Durch diese Ergänzungen des BERTScope werden keine externen Erweiterungen benötigt.
Tektronix hat seine Lösung für PCIe3 Tx-Tests durch die Integration der SigTest-Software der PCI-SIG für Konformitätstests in die Automatisierungsplattform TekExpress der digitalen Oszilloskope der DSA70000-Serie verbessert. Die aktualisierte PCE3-Software erlaubt eine Automatisierung der Testinstrumente und DUT-Steuerung, Pattern-Validierung, Datenerfassung und Analyse mit SigTest sowie ein kundenspezifisches Reporting von mehreren SigTest-Ergebnissen. Die PCE3-Software ermöglicht außerdem einen nahtlosen Übergang zum Debugging, wenn der Konformitätstest nicht erfolgreich beendet wird.
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