URL dieses Beitrags:

Lesezeichen bei Google setzen Link auf Facebook teilen
News - Forschung und Entwicklung vom 02/22/2016

National Instruments

Technologietrends zur Senkung von Prüfkosten

Der jährlich erscheinende Technologieausblick „Automated Test Outlook“ von NI untermauert den Bedarf für intelligentere Prüfsysteme und zeigt wichtige Unternehmens- und Technologietrends zur Senkung von Prüfkosten.

Bild: National Instruments
  (Bild: National Instruments)

National Instruments hat die Veröffentlichung des Automated Test Outlook 2016 bekannt gegeben. Der jährlich erscheinende Technologieausblick gibt einen Überblick über wichtige Trends und Entwicklungen, die die Prüftechnikbranche insbesondere aufgrund der steigenden Anzahl an vernetzten Geräten gegenwärtig und auch zukünftig beeinflussen werden.

Dabei werden die unterschiedlichen Bereiche näher beleuchtet: von den Vorbereitungen für das Testen von mm-Wellen-Kommunikation bis hin zur effektiven Nutzung von Testdaten aus der Produktion, um Umsätze und Gewinne zu verbessern.


Der Automated Test Outlook 2016 deckt folgende Themen ab:


Datenverarbeitung: Harvesting Production Test Data
Halbleiterunternehmen senken mithilfe von Echtzeitdatenanalysen die Prüfkosten in der Produktion.

Software: Life-Cycle Management Is All About Software
Obsoleszenz, Betriebssystemwechsel und Kompatibilität stellen langfristige Projekte nach wie vor vor große Herausforderungen.

Architektur: The Rise of Test Management Software
Off-the-shelf Test Executives bieten eine effektive Lösung zur Integration neuer Programmiersprachen.

I/O: Standardizing Platforms from Characterization to Production
RFIC-Unternehmen profitieren dank Wiederverwendung von Intellectual Property und Hardwarestandardisierung über den gesamten Produktentwicklungszyklus von geringeren Kosten und einer schnelleren Markteinführung.

Unternehmensstrategie: Making (mm)Waves in Test Strategy
Testmanager nutzen zunehmend modulare Lösungen zur kostenoptimierten Validierung von RF-Komponenten. (as)

www.ni.com